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台式微区X射线荧光光谱仪M1 MISTRAL

台式微区X射线荧光光谱仪

用于大件样品与镀层样品的无损分析

无需任何准备即可分析任何形状的样品

M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品盒镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数Z=22（钛）以上的所有元素。因此，它可以分析的物质范围较广，譬如金属、合金、金属镀层，包括多层镀层样品。

样品尺寸可达100x100x100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。

光管位于样品上方，测量过程中不接触样品，因此可以很容易地分析复式样的样品，如精工细作的珠宝或者不同厚度的样品。

可以测量用户的所需的位置

M1 MISTRAL的微焦斑X射线光管，即使光斑小到100μm也可以产生足够的射线强度，光斑大小取决于所使用的准直器。

采用视频显微镜进行准确定位，可以测量任何想测的位置。可选的计算机控制的自动样品台，并自动聚焦。

超快检测系统，迅速产生结果

M1 MISTRAL可配有两种不同的X射线探测器：大面积充气正比计数器，可用于质量控制中的标准应用；或者配置硅漂移探测器，具有超快的检测速度盒非常好的能量分辨率，检出限可以达到0.01%（重量比）。先进的探测器，数字脉冲处理器及优化的几何结构，确保了X射线探测的效率，能够快速地得到准确的分析结果。

易使用，免维护

M1 MISTRAL及XSpect软件的设计，让操作人员只需经过简单的培训即可使用。

仅一个电源接口就可以运行仪器，采用空气冷却，无需消耗品。紧固的结构确保的稳定性，并完全免维护。

珠宝及合金分析

M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品，不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分比或K(克拉)表示

测量RoHS检测要求

高性能的M1 MISTRAL也可以测量RoHS指令限定的轻基体的痕量元素。直接控制电气产品中有害元素的浓度。

测量镀层样品

采用X射线荧光技术的M1 MISTRAL可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层多层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品可以进一步提高定量分析的准确性。

部分应用简介

M1 MISTRAL的应用领域很广，我们选择3个常见的例子进行简要介绍。

珠宝检测

l   黄金

l   白金

l   铂（Pt）合金

l   银（Ag）合金

l   精度：优于0.2wt%

可分析的多层镀膜样品

可以测定镀层样品的镀层厚度及成分，例如：

l   Zn-Fe

l   Au-Ni-Cu

l   Au-Pd-Ni-Fe

l   CuSn-Ni-Cu

l   Au-Pd-Ni-Cu

XSpect分析软件

XSpect软件具有以下功能：

l   仪器控制，数据采集与处理

l   谱峰识别

l   定量分析，采用无标样法和基于标样的经验系数法

l   镀层样品分析，可分析镀层厚度和成分

l   采用基本参数法编辑特定镀层的分析方法

l   输出