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产品信息
探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT
布鲁克 Dektak XT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项*性的设计,可以提供*的重现性,重现性低于5Å。台阶仪这项性能的**了过去40年Dektak技术*的*,更加巩固了其**。通过整合其*产品,Dektak XT实现了**。操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术*到第十代Dektak XT台阶仪,能够在微电子,半导体,*亮度发光二*管(LED)、*、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。
Dektak XT 技术参数:
1. 台阶高度重复性5Å
2. 单拱(Single-arch)设计大大*了扫描稳定性
3. 前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰
4. 新的硬件配置使数据采集能力*了40%
5. 64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度*了十倍。
6. 功能卓越,操作简易
7. 直观的Vision64用户界面操作流程简便易行
8. 针尖自动校准系统让用户更换针尖*是难事
9. 台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的**
10. 单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围